磁场值测定装置以及磁场值测定方法[发明专利]

来源：花图问答

专利内容由知识产权出版社提供

专利名称：磁场值测定装置以及磁场值测定方法专利类型：发明专利

发明人：齐藤准,吉村哲,木下幸则,野村光,中谷亮一申请号：CN201480016966.2申请日：20140328公开号：CN105102989A公开日：20151125

摘要：一种磁场测定装置，具备：振动式的探针装置(11)，其具备探针(111)，该探针(111)含有一种以上的具有磁化强度与外部磁场的大小成比例这种性质的材料；探针(111)用的机械振动源(12)；检测探针(111)的振动频率和振幅的振动检测装置(13)；向探针(111)施加频率与探针(111)的机械振动频率不同的交流磁场产生装置(14)；向探针(111)施加直流外部磁场的直流外部磁场产生装置(15)；检测在探针(111)的机械振动中产生的频率调制检测装置(16)；对直流外部磁场产生装置向探针(111)施加的机械振动方向的直流外部磁场的大小进行调整的直流外部磁场控制装置(17)；以及直流磁场确定装置(18)，其根据频率调制的大小为极小时的直流外部磁场产生装置的输出值，来确定从观察试样(100)产生的直流磁场的值。

申请人：国立大学法人秋田大学,国立大学法人大阪大学

地址：日本秋田县

国籍：JP

代理机构：北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：刘新宇

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